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＜概要＞

強誘電体薄膜およびバルクセラミックスのアプリケーションにおいて、TF2000シリーズはあらゆるアプリケーションに対応できるようモジュラー設計されております。システムは本体とテストヘッドで構成され、オプションで高電圧アンプや高速デジタルオシロスコープなどを用意することで高電圧、高周波数の試験を提供することが可能になります。
周辺機器では圧電定数を測定するアプリケーションのための各種変位計を用意し、また高速、微小スポットのためのプロービング装置の環境を用意することで、本体一台で強誘電体デバイスのほとんどの機能試験を網羅しております。
プロダクション用のアプリケーションではFeRAMのための1T1Cのプロダクションコントロールを独自のコンペンセーション技術を用いて可能にし、実セル状態での絶対的な残留分極値および電流波形を測定することで、設計へのパラメーター供給を可能にし開発、設計、プロダクションの問題点をクリアにし、製造関連のコスト削減、開発のスピードアップに寄与できる唯一のシステムです。

＜特　徴＞ コントローラー仕様 コンピュータソフトウェア IBM PC -コンパーチブルコンピュータVGA グラフィックインターフェイス 128MB RAM LS 120 MB ドライブ/ 3.5" フロッピー 1.44MB
→仕　様