半導体デバイスや ICモジュール等に低温から高温まで圧縮エアーと電源のみで与えることができテストシステムとの組み合わせによりリアルスピードの温度試験が可能になります。

光学式の非接触タイプの膜厚測定器で、各種薄膜材料の膜厚及び屈折率、吸収係数、誘電率、組成、エネルギーバンドギャップ、光導波等を使用して物性特性まで同時に計測可能なシステムです。また同社は多機能の光学薄膜設計用シュミレーションソフトウェア（ Film Wizard)も販売しております。
アプリケーションは基盤がSi、化合物半導体、ガラス、PET等の上の膜が測定可能です。

各種誘電体材料のヒステリシス、疲労、保持、漏れ特性を計測するシステムです。
オプションにてＡＦＭやレーザ変位計との組合せによる圧電測定システム。焦電体測定用の組合せも可能。

エミッション顕微鏡での裏面観察に最適。短時間でシリコン面を研磨でき裏面からの観察を容易にすることができます。またサンプル研磨承ります。
光ファイバコネクタの研磨機も各種取り揃えております。

マニュアルからセミオート機能を搭載したモデルを用意し半導体 ICの微細なパターンに直接プロービング可能なシステムです。ユーザーの仕様に応じたシステムを構築できます。また、薄膜等の、抵抗率、膜厚分布を測定アプリケーションのために シート抵抗測定システム も用意しております。

テスターやウェハプローバーの上で使用できる廉価版エミッションマイクロスコープです。

各種フィルター、電圧・電流校正器、ファンクションジェネレータ、オシレータ。

電話器の通信及び機能テストを行えるシステムで世界各国の仕様にあわせたシステムが構築できます。