先端電子事業

デバイス温度環境試験装置

半導体デバイスやICモジュール等に低温から高温まで圧縮エアーと電源のみで与えることができテストシステムとの組み合わせによりリアルスピードの温度試験が可能になります。

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光学式薄膜測定システム

光学式の非接触タイプの膜厚測定器で、各種薄膜材料の膜厚及び屈折率、吸収係数、誘電率、組成、エネルギーバンドギャップ、光導波等を使用して物性特性まで同時に計測可能なシステムです。

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強誘電体テストシステム

各種誘電体材料のヒステリシス、疲労、保持、漏れ特性を計測するシステムです。
オプションにてAFMやレーザ変位計との組合せによる圧電測定システム。焦電体測定用の組合せも可能。

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デバイス研磨機

エミッション顕微鏡での裏面観察に最適。短時間でシリコン面を研磨でき裏面からの観察を容易にすることができます。またサンプル研磨承ります。
光ファイバコネクタの研磨機も各種取り揃えております。

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プロービングシステム

マニュアルからセミオート機能を搭載したモデルを用意し半導体ICの微細なパターンに直接プロービング可能なシステムです。

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エミッション顕微鏡

テスターやウェハプローバーの上で使用できる廉価版エミッションマイクロスコープです。

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電圧電流校正器・フィルタ

各種フィルター、電圧・電流校正器、ファンクションジェネレータ、オシレータ。

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電話器テスタ

電話器の通信及び機能テストを行えるシステムで世界各国の仕様にあわせたシステムが構築できます。

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