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デバイス温度環境試験装置（THERMONICS）
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半導体デバイスやICモジュールに対して、簡単に温度環境を作ることができます。
半導体デバイスやICモジュール等に低温から高温まで圧縮エアーと電源のみで与えることができテストシステムとの組み合わせによりリアルスピードの温度試験が可能になります。
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＜概要＞
広い温度範囲（−90℃〜＋225℃）と速い温度可変時間（−55度＋125℃、４秒以下）を持った、業界最高スペックの温度環境試験装置。
カラーグラフィックタッチパネルを用いているためどなたでも簡単に操作可能。サイクル試験機能、IEEE488インターフェース標準装備。
＜特徴＞
温度範囲 ‐90℃〜225℃
温度精度 ±1.0℃
温度可変スピード ４秒以下（−55℃⇔＋125℃）
タッチスクリーン搭載
アーム動作上下横方向モーター動作
DUTコントロール可能
IEEE488インターフェース搭載
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＜概要＞
圧縮乾燥エアーと200Ｖの電源を用いて、簡単に温度評価ができます。カラーグラフィックタッチパネルを用いてどなたでも簡単に操作できます。
サイクル試験機能、IEEE488インターフェース標準装備
＜特徴＞
温度範囲 ―80℃〜225℃
温度精度 ±1.0℃
温度可変スピード 10秒以下（−55℃⇔＋125℃）
アーム動作 上下モーター横方向マニュアル
タッチスクリーン搭載
ＤＵＴコントロール可能
IEEE488インターフェース搭載
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＜概要＞
AC200Vのみで、動作できるエアーコンプレッサ内臓型温度環境試験装置。圧縮乾燥エアーの設備がない、実験室、オフィスビルなどで簡単に温度評価ができます。サイクル試験機能、IEEE488インターフェース標準装備
＜特徴＞
温度範囲 −60℃〜225℃
温度精度 ±1.0℃
エアーコンプレッサ内蔵なので
圧縮乾燥エアー不要
DUTコントロール可能
IEEE488インターフェース搭載
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＜概要＞
AC200Vと圧縮乾燥エアーで簡単に温度評価が行えます。
横幅53cmとスリムな設計の為、狭い実験室での使用に最適です。
＜特徴＞
温度範囲 −80℃〜+225℃
温度精度 ±1.0℃
DUTコントロール可能
IEEE488インターフェース標準装備
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＜概要＞
圧縮乾燥エアーとAC110Vで動作できる簡易型温度環境試験装置低温は-30℃まで下がります。占有床面積は46ｃｍ×56ｃｍで、机の上において簡単にテストを行えます。アームがついており、測定物に対し簡単にセットアップできます。
＜特徴＞
温度範囲 ‐30℃〜200℃
温度精度 ±1.0℃
省スペースで使用可
DUTコントロール可
IEEE488インターフェース
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＜概要＞
圧縮乾燥エアーとAC110Vで動作できる簡易型温度環境試験装置本体サイズ約26×40×20ｃｍ（高、横、奥）、重量９．１ｋｇ以下とコンパクトに設計されており、持運んで使用できます。
＜特徴＞
温度範囲 ‐20℃〜200℃
温度精度 ±1.0℃
DUTコントロール可能
本体重量9.1ｋｇ以下
最小最軽量の温度環境試験装置
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