ヤーマン 企業情報 トップ製品について先端電子機器

先端電子機器

お問い合わせ

先端電子事業部 03-5665-7340

先端電子機器一覧

強誘電体テストシステム

強誘電体テストシステム

各種誘電体材料のヒステリシス、疲労、保持、漏れ特性を計測するシステムです。
オプションにてAFMやレーザ変位計との組合せによる圧電測定システム。焦電体測定用の組合せも可能。

コンタクト型温度印加システム

コンタクト型温度印加システム

幅広い温度(-55℃〜+135℃)対応のコンタクト型温度印加システム。 温度安定性(±0.1)が高く、長時間(1年間)稼動出来ます。 また、電源のみでピンポイントで温度印加可能な事から評価基板上のデバイス、デバック品等の実装部品の解析にもお勧め致します。

デバイス研磨機

デバイス研磨機

エミッション顕微鏡での裏面観察に最適。短時間でシリコン面を研磨でき裏面からの観察を容易にすることができます。またサンプル研磨承ります。
光ファイバコネクタの研磨機も各種取り揃えております。

デバイス開封機

デバイス開封機

Cu配線に特化したデバイス開封機。レーザー開封機、薬液開封機 のラインナップが有り、Cu配線を生かして開封する事はもちろん、より細い(20μm以下)配線に、より密に配線されている箇所へ、よりダメージ無く開封する事を目的とした装置です。サンプル開封を随時受け付けております。

エミッション顕微鏡

エミッション顕微鏡

テスターやウェハプローバーの上で使用できる廉価版エミッションマイクロスコープです。

電圧電流校正器・フィルタ

電圧電流校正器・フィルタ

各種フィルター、電圧・電流校正器、ファンクションジェネレータ、オシレータ。

密着強度分析装置

密着強度分析装置

4ポイントベンディングまたはダブルカンチレバービーム手法を使用し密着強度エネルギーを定量化することが可能。

電話器テスタ

電話器テスタ

電話器の通信及び機能テストを行えるシステムで世界各国の仕様にあわせたシステムが構築できます。

プロービングシステム

プロービングシステム

マニュアルからセミオート機能を搭載したモデルを用意し半導体ICの微細なパターンに直接プロービング可能なシステムです。

このページのTOPへ